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LCR 測(cè)試儀(電橋)的原理和使用方法

LCR 測(cè)試儀(電橋)的原理和使用方法
*簡(jiǎn)介
LCR測(cè)試儀，L:電感(為了紀(jì)念物理學(xué)家 Heinrich Lenz)，C:電容(Capacitor)R:電阻(Resistance)，LCR 數(shù)字電橋就是能夠測(cè)量電感，電容，電阻，阻抗的儀器.
隨著現(xiàn)代模擬和數(shù)字技術(shù)的發(fā)展，早已經(jīng)淘汰了LRC 電橋這種測(cè)量方法，但 LCR 電橋的叫法一直沿用至今。如果是使用了微處理器的 LCR 電橋則叫 LCR 數(shù)字電橋。一般用戶(hù)又稱(chēng)這些為:LCR 測(cè)試儀、LCR電橋、LCR表、數(shù)字電橋、LCR Meter等等。
*分類(lèi)
臺(tái)式 LCR 測(cè)試儀
便攜式 LCR 測(cè)試儀
*原理
Vx 與 Vr 均是矢量電壓表，Rr 是理想電阻。自平衡電橋的意思是:當(dāng) DUT(DeviceUnder Test)接入電路時(shí)，放大器的負(fù)反饋配置自動(dòng)使得 OP 輸入端虛地。Vx 準(zhǔn)確測(cè)定DUT兩端電壓(DUT的 Low 電位是0)，Vr與Rr測(cè)得 DUT電流 Ix，由此可計(jì)算 Zx。
HP4275的測(cè)試端Hp,Hc,Lp,Lc(下標(biāo)c代表current,下標(biāo)p代表Potentail)，Guard(接地)的配置可導(dǎo)致測(cè)試的誤差的差異。
提高精度的方法是: 1,Hp,Lp,Hc,Lc 盡量接近 DUT; 2,減小測(cè)試電流 Ix 的回路面積&磁通量(關(guān)鍵是分析 Ix，要配合使用 Guard 與 Cable *小化回路面積);3,使用Gurard 與 Cable 構(gòu)建地平面中斷信號(hào)線(xiàn)間的電場(chǎng)連接，雖然會(huì)增加信號(hào)線(xiàn)的對(duì)地電容(對(duì)地電容不影響測(cè)試結(jié)果)，但是會(huì)減少信號(hào)線(xiàn)的互容。
Guard 與 Cable 的對(duì)地寄生阻抗(Zhg,Zlg)不影響測(cè)試結(jié)果，電橋平衡時(shí) Zlg 的兩端電壓是 0，流向 Rr 的電流不會(huì)被 Zlg 分流，Zhg 的分流作用不影響 Hp 的電壓測(cè)量。

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